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適用于子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片阻容、零組件產業、子零組件金屬等材料進行老化加速壽命試驗
標準型號:
產品型號:GT-ZQ-34
內部尺寸:50X40X17 CM (W*H*D)
外部尺寸:60X50X42 CM (W*H*D)
溫度范圍:Upto97℃
控制器:PID微腦控制
加熱方式:PID+SSR
升溫時間:約45分鐘
計時器:9999分
壓:220V
熱(KW):2
武漢蒸氣老化試驗箱廠家 是測試產品在高溫水蒸氣環境下產品所受到的影響情況,以加速老化的方式來測試產品的耐久性能。蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業、電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。微電腦溫度控制器、LED數字顯示,PID+SSR控制,白金電阻溫度傳感器(PT100),解析度0.1℃。